THORLABS色散測(cè)量儀Chromatis

Chromatis色散測(cè)量系統(tǒng)可表征用于飛秒脈沖激光器的反射和透射光學(xué)組件的群延遲色散(GDD)特性。超快脈沖在通過光學(xué)系統(tǒng)傳播時(shí)會(huì)變寬；了解每個(gè)光學(xué)元件引起的GDD并適當(dāng)補(bǔ)償失真，可以恢復(fù)短脈沖寬度。為了獲得高度準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果，Chromatis使用時(shí)域白光干涉儀(WLI)來測(cè)量GDD。該色散測(cè)量系統(tǒng)包含軟件，可指導(dǎo)用戶進(jìn)行光束對(duì)準(zhǔn)(條紋優(yōu)化)、自動(dòng)找到零延時(shí)位置(條紋對(duì)比max.)并快速測(cè)量色散。

Chromatis色散測(cè)量系統(tǒng)具有光纖耦合的穩(wěn)定鹵素光源，其有效波長范圍為500至2100 nm。該寬帶光源可表征為用于鈦藍(lán)寶石、摻鐿光纖和摻鉺光纖激光器的超快光學(xué)元件。由于干涉圖是在時(shí)域中記錄，因此可以使用單個(gè)光電二極管探測(cè)器(而不是光譜儀)進(jìn)行測(cè)量，并且內(nèi)置的HeNe參考激光器可對(duì)波長軸進(jìn)行校準(zhǔn)。該系統(tǒng)包括一個(gè)波長為500-1100 nm的硅光電二極管。但是，可以很容易地連接InGaAs探測(cè)器進(jìn)行1000-1650 nm波長范圍內(nèi)的測(cè)量。

通常，低色散光學(xué)元件僅需要幾百飛秒即可捕獲整個(gè)干涉圖，因此使用濾光片限制入射光的波長范圍常有助于減少所需的掃描范圍和總體噪聲。Chromatis色散測(cè)量系統(tǒng)具有六個(gè)用于濾光片的插槽，并且包含覆蓋500-700 nm、600-1000 nm和950-1100 nm波長范圍的帶通濾光片，用于與硅光電二極管配合使用。由于濾光會(huì)降低掃描的整體強(qiáng)度，因此會(huì)降低干擾對(duì)比度，而光電二極管具有可變的增益設(shè)置以補(bǔ)償此衰減。

• 用于測(cè)量色散的白光干涉儀
• 穩(wěn)定鹵素光源的寬帶發(fā)射
• 可安裝Ø1/2英寸和Ø1英寸的光學(xué)元件
• 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量模式，包含夾具和參考光學(xué)元件

0°反射

0° - 70°透射

5° - 70°角度反射

• 可選反射鏡對(duì)夾具
• 同時(shí)測(cè)量S偏振和P偏振
• 包含用于波長自校準(zhǔn)的HeNe參考激光器
• 包含用于空間對(duì)準(zhǔn)的紅光和綠光二極管激光器
• 可選兩個(gè)用戶可更換的探測(cè)器
• 機(jī)架式2U柜(3.5英寸面板高度)中包含電子設(shè)備
• 由包含的預(yù)裝軟件Windows筆記本操作

• InGaAs 檢測(cè)器模塊，用于測(cè)量至 1650 nm
• 2”光學(xué)裝置
• 鏡對(duì)夾具
• 用于測(cè)量高色散光學(xué)器件（例如 AOM 晶體）的硬件
• 范圍擴(kuò)展到7 或 2.2 微米

確認(rèn)膜層設(shè)計(jì)規(guī)格

光學(xué)元件檢查

質(zhì)量控制測(cè)量