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對于射頻和微波器件的晶圓級測試,沒有比 Cascade Microtech 的|Z|更好的解決方案探測。|Z|采用的探針技術確保以低接觸電阻和良好的阻抗控制進行高精度測量。
射頻/微波信號僅對屏蔽、空氣隔離的探頭主體內(nèi)的共面接觸結構進行一次轉換。
這可以在很寬的溫度范圍內(nèi)保持信號完整性和穩(wěn)定的性能。
憑借1MX 技術,|Z|探頭 50 GHz 提供好的電氣性能,尤其是插入和回波損耗。此外,隔離(串擾)已得到改善,從而使探頭能夠為您的晶圓級射頻和微波測量提供高精度。
用 |Z| 接觸被測設備 (DUT)探頭簡單、可重復性高并且需要小的超程。此外,觸點可以相互獨立移動,允許您在 3D 結構和焊盤高度偏差高達 50 μm 的晶片上進行探測。
與 Cascade Microtech 的 HF 探測系統(tǒng)結合使用,包括 ProbeHeads、SussCal 校準軟件和高精度 CSR 系列校準基板,|Z|探針成為滿足您所有 HF 晶圓級探測需求的工具。
感謝經(jīng)過驗證的 |Z|探頭技術,探頭還具有極長的使用壽命。它保證在標準使用和超程下至少有 1,000,000 次接觸循環(huán)的使用壽命。
耐用性
靈活性
射頻性能
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